Soft X-ray quantum efficiency of a commercial CMOS imaging sensor
用户ydeigrG4DijY
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DOI: 10.1117/1.jatis.10.3.036001
其他信息:
出版社: SPIE-Intl Soc Optical Eng
作者: Colin M. Packard; Steve Tammes; Philip Kaaret; Casey DeRoo; Jessica L. McChesney; John W. Freeland; Fanny Rodolakis